微焦点X射线针对大尺寸电子模块的缺陷检测和电子行业产品质量控制的需求，解决三维分层成像关键科学问题，实现电子模块封装、印刷电路板、高密封装等焊接质量的高精度自动无损检测，将应用于航天、航空、海装、陆装、战略等各类装备电子学系统的产品鉴定与评估、破坏性物理分析（DPA）、产品工艺质量鉴定等，在装备的研制生产环节中、在装备研制过程中，设备失效分析，识别由于产品设计、工艺设计、物料引入过程中所带来的缺陷，如PCB的孔断、焊点的枕头效应、裂纹、BGA器件焊球缺陷以及结构损伤等，提高电子产品质量和可靠性水平，提升产品研发设计和制造工艺水平，增强电子产品缺陷识别与分析能力。采用了的Computedlaminography(CL)扫描模式和算法，具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。微焦点X射线检测主要技术参数：1、开放式球管射线源，高管电压160kV，大管电流1mA，元器件失效分析，大靶功率7W2、焦点尺寸2μm3、探测器倾斜角度为±70°，图像≥100万像素，灰度等级为16位4、载物台可绕旋转轴360度旋转5、大可检测样品重量5Kg6、大可检测样品尺寸为460mm×410mm×300mm用途：可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点质量检测及多余物检测，失效分析仪器，也可进行小直径管焊缝质量检测。Phase12热阻测试仪产自美国AnalysisTech(Anatech)公司，符合美军标和JEDEC标准.AnalysisTechInc.成立于1983年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人JohnW.Sofia是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的.发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的.AnalysisTechInc.在美国有独立的实验室提供技术支持.在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.主要用于测试二极管，三极管，南通失效分析，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET，IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。苏州特斯特公司(图)-失效分析仪器-南通失效分析由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是从事“失效分析设备,检测服务,检测仪器”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：宋作鹏。)