元器件失效分析-失效分析-苏州特斯特(查看)
射线照相法(RT)是指用X射线或γ射线穿透试件,以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法,该方法是基本的,应用的一种非破坏性检验方法。原理:射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光,当X射线或γ射线照射胶片时,与普通光线一样,能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影,失效分析设备,由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同,照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异,失效分析,便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。无损检测已不再是仅仅使用X射线,包括声、电、磁、电磁波、中子、激光等各种物理现象几乎都被用做于了无损检测,譬如:超声检测、涡流检测、磁粉检测、射线检测、渗透检测、目视检测、红外检测、微波检测、泄漏检测、声发射检测、漏磁检测、磁记忆检测、热中子照相检测、激光散斑成像检测、光纤光栅传感技术,失效分析仪器,等等,而且还在不断地开发和应用新的方法和技术。需要考虑的是焦点到X射线管窗口外表面的距离,它决定了被检样品到焦点的小距离。这一参数的重要性在于它决定了一个微焦点系统可能达到的大放大倍数。由于防护设施空间的局限以及射线的衰减与距离的平方成反比(I/R2),元器件失效分析,我们无法随意拉长胶片或探测器到射线源的距离以增大放大倍数。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。元器件失效分析-失效分析-苏州特斯特(查看)由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!)