⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，膜厚仪EDX8000TPlus，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：EfficiencyScientificInstrumentCo.，Ltd.公司logo和英文缩写为ESI。英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。XRF金属镀层测厚仪产品特点>测试快速，无需样品制备>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率>可切换准直器和滤光片XRF金属镀层测厚仪应用场景>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度膜厚仪EDX8000TPlus-英飞思科学仪器(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是江苏苏州,分析仪器的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在英飞思科学领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创英飞思科学更加美好的未来。)